熱阻測(cè)試儀/熱法熱阻測(cè)試儀/熱阻檢測(cè)儀  型號(hào)：XK-DRL-III

本儀器主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、固體電緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。

儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（緣片材、導(dǎo)熱樹脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2006（薄的熱導(dǎo)性固體電緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。

儀器點(diǎn)：帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，提了測(cè)試度。可檢測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。

廣泛應(yīng)用在等院校，科研單位，質(zhì)檢和廠的材料導(dǎo)熱分析檢測(cè)。

XK-DRL-III熱阻測(cè)試儀（熱法）主要參數(shù)

1、試樣大?。?le;Φ30mm

2、試樣厚度：0.02-20mm

3、熱控溫范圍：室溫-99.99℃  

4、冷控溫范圍：0-99.0℃

5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.05～45 W/m*k

6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m²*K/W

7、壓力測(cè)量范圍：0～1000N

8、位移測(cè)量范圍：0～30.00mm

9、測(cè)試度：優(yōu)于3％

10、實(shí)驗(yàn)方式：a、試樣不同壓力下熱阻測(cè)試。b、材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。c、接觸熱阻測(cè)試。

11、計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。